深圳市華海智能卡有限公司
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LTE測(cè)試白卡

LTE測(cè)試卡、4G測(cè)試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM測(cè)試卡、CDMA測(cè)試卡、UIM測(cè)試卡、RUIM測(cè)試卡、WCDMA手機(jī)測(cè)試、TD-SCDMA測(cè)試卡、CDMA2000測(cè)試卡、手機(jī)測(cè)試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號(hào)測(cè)試（LTE（Long Term Evolution，長(zhǎng)期演進(jìn))是由3GPP組織制定的UMTS技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的長(zhǎng)期演進(jìn)，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會(huì)議上正式立項(xiàng)并啟動(dòng)。LTE系統(tǒng)引入了OFDM和多天線MIMO等關(guān)鍵傳輸技術(shù)，顯著增加了頻譜效率和數(shù)據(jù)傳輸速率（峰值速率能夠達(dá)到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，頻譜分配更加靈活，系統(tǒng)容量和覆蓋顯著提升。LTE無線網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)更加扁平化，減小了系統(tǒng)時(shí)延，降低了建網(wǎng)成本和維護(hù)成本。LTE系統(tǒng)支持與其他3GPP系統(tǒng)互操作。FDD-LTE已成為當(dāng)前世界上采用的國(guó)家及地區(qū)***廣泛的，終端種類***豐富的一種4G標(biāo)準(zhǔn)。）。常用于LTE手機(jī)、4G手機(jī)、FDD手機(jī)、GSM手機(jī)、UIM手機(jī)、RUIM手機(jī)、CDMA2000手機(jī)、配合綜合測(cè)試儀以及自己搭建的網(wǎng)絡(luò)對(duì)手機(jī)進(jìn)行無干擾綜合測(cè)試；手機(jī)在生產(chǎn)中需要對(duì)成品進(jìn)行相關(guān)信號(hào)測(cè)試，卻要進(jìn)行大規(guī)模屏敝，需動(dòng)用更多的人力物力及測(cè)試時(shí)間，使生產(chǎn)工藝繁雜及成本增加，測(cè)試卡可以實(shí)現(xiàn)信號(hào)至儀器到手機(jī)的路徑，讓測(cè)試環(huán)境更加簡(jiǎn)潔，很好的解決了這一繁鎖問題。測(cè)試卡可進(jìn)行偶合測(cè)試，誤碼率測(cè)試、具有齊備的VCC和RSTB，可用于終端和綜測(cè)儀測(cè)試等。

產(chǎn)品適用的測(cè)試儀器的品牌：

適用安捷倫、安立、羅德·施瓦茨、星河亮點(diǎn)、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMW500、CMU55、E5515C、E828、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等國(guó)外、國(guó)內(nèi)的各種測(cè)試儀器以及各手機(jī)廠或者營(yíng)運(yùn)商自建的網(wǎng)絡(luò)等。

產(chǎn)品品質(zhì)**：

  我們公司的LTE測(cè)試卡、4G測(cè)試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、測(cè)試卡、GSM測(cè)試卡、CDMA測(cè)試卡、UIM測(cè)試卡、RUIM測(cè)試卡、WCDMA手機(jī)測(cè)試、TD-SCDMA測(cè)試卡、CDMA2000測(cè)試卡、手機(jī)測(cè)試卡采用國(guó)際半導(dǎo)體廠商生產(chǎn)的芯片，3V/5V兼容5-6觸點(diǎn)兼容設(shè)計(jì)，適合一切手機(jī).、配以COS系統(tǒng)，全面遵從4G手機(jī)、3G對(duì)手機(jī)、2G手機(jī)等，我司的測(cè)試卡的各項(xiàng)規(guī)范特殊的半導(dǎo)體硅襯，**卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力。（GSM標(biāo)準(zhǔn)為4牛頓／每平方米）適合工業(yè)化生產(chǎn)線使用，采用超長(zhǎng)壽命EEPROM，**讀寫次數(shù)在10萬次以上。（3G標(biāo)準(zhǔn)只要求3萬次，按一般生產(chǎn)線測(cè)量要求，每部手機(jī)的讀寫次數(shù)為10次，可測(cè)一萬部手機(jī)。），專利芯片保護(hù)層，**卡片安全，防電子攻擊。耐壓6.5V以上特殊卡片涂層，抗靜電（ESD），防水（48小時(shí)浸泡試驗(yàn)）特殊卡體材料（ABS混合高溫PVC），耐高溫，45度可正常工作4小時(shí)以上。75度溫度沖擊試驗(yàn).